В каталог

FLUORONOID® FL 371

Химическое семейство
Полиэфирэфиркетон (PEEK)

FLUORONOID® FL 371 представляет собой PEEK со специальными наполнителями. PEEK – это высокотехнологичный инженерный термопластик с хорошей химической стойкостью, высокой износостойкостью, высокой предельной эксплуатационной температурой, низкой горючестью, отличными электрическими свойствами и хорошей устойчивостью к радиации.

Маркировки и сертификаты
  • Невоспламеняющийся
  • ISO 14001
  • ISO 9001
  • Одобрено TÜV

Функции и применение

Рынки
  • Автомобильная и транспортная промышленность
  • Строительство
  • Промышленность
Технология
Пластики
Типичные применения

FL 371 был разработан. чтобы обеспечить большую гибкость и более низкий коэффициент трения. Эти свойства представляют особый интерес для производителей клапанов при изготовлении седел клапанов.

Конечные применения пластиков и эластомеров
  • Седла клапанов
  • Клапаны
Функции пластиков и эластомеров
Смола

Применение

Применение
  • Строительство — Другие строительные применения
Автомобильная и транспортная промышленность — Автомобили
  • Топливные системы
Промышленность — Химическое и промышленное производство
  • Оборудование и детали

Свойства

Характеристики материала
  • Химически стойкий
  • Отличная гибкость
  • Хорошие электрические свойства
  • Высокая производительность
  • Высокая термостойкость
  • Низкая воспламеняемость
  • Низкий коэффициент трения
  • Невоспламеняющийся

Идентификация

Бренд
FLUORONOID
Название полимера
Полиэфирэфиркетон (PEEK)Polyetheretherketone (PEEK)

Семейства продуктов

Пластики — Инженерные и специальные полимеры
  • Высокопроизводительные термопласты

Технические данные

Таблица 1 из 1

5 строк
ХарактеристикаЗначениеЕдиницаМетод
Specific Gravity1.43——
Tensile Strengthmin. 65Mpa—
Elongationmin. 7.5%—
Hardness82.0—Shore D
Modulus Of Elasticitymin. 3Gpa—

Сайт Omnichem использует файлы cookie. Продолжая пользоваться сайтом, вы даёте согласие на их использование в соответствии с положениями нашей Политики конфиденциальности и со сбором аналитики.