В каталог

Fluon+™ mPEEK KB-2030

Химическое семейство
Полиэфирэфиркетон (PEEK)

AGC Chemicals Americas, Inc. Fluon+™ mPEEK KB-2030 — это модифицированная смола PEEK (полиэфирэфиркетон), которая была усовершенствована с использованием эксклюзивной технологии разработки фторполимеров и компаундирования компании AGC. Модификация повышает ударопрочность и износостойкость смолы PEEK, а также улучшает её физические и электрические свойства. Fluon+™ mPEEK KB-2030 можно обрабатывать с использованием традиционных методов формовки PEEK, таких как экструзия или литье под давлением. Потенциальные области применения включают шланги или трубки, провода и кабели, шестерни, уплотнения или другие рынки, требующие высокой температурной и химической стойкости.

Функции и применение

Методы обработки
Прессование, Экструзия, Литьевое формование
Рынки
  • Автомобильная и транспортная промышленность
  • Потребительские товары
  • Электрическое и электронное оборудование
  • Промышленность
Технология
Пластики

Свойства

Характеристики материала
  • Ударопрочность
  • Износостойкость
  • Гибкость
  • Электрические характеристики
  • Размерная стабильность
  • Химическая стойкость
  • Хорошие электрические свойства

Идентификация

Бренд
Fluon+
Название полимера
Полиэфирэфиркетон (PEEK)Polyetheretherketone (PEEK)

Семейства продуктов

Пластики — Инженерные и специальные полимеры
  • Высокопроизводительные термопласты

Другие характеристики

Модуль изгиба
2200.0 - 2200.0 MPa

Технические данные

Таблица 1 из 1

8 строк
ХарактеристикаЗначениеЕдиницаМетод
Flexural Modulus (at 23°C)2.2GPaASTM D790
Flexural Strength (at 23 °C, 5% Strain)83MPaASTM D790
Impact Strength (at -40 °C)87J/mASTM D256
Impact Strength (at 23 °C)NBJ/mASTM D256
MIT Flex Life721CyclesJIS P8115
Tensile Elongation (at 23°C)78%ASTM D638
Tensile Strength (at 200°C)40MPaASTM D638
Tensile Strength (at 23 °C)78MPaASTM D638

Сайт Omnichem использует файлы cookie. Продолжая пользоваться сайтом, вы даёте согласие на их использование в соответствии с положениями нашей Политики конфиденциальности и со сбором аналитики.